登录到您的 Teledyne Lecroy 帐户
WavePulser 40iX 高速互连分析仪通过单次采集提供对频域和时域无与伦比的表征洞察力。
在一次采集中获得信号路径的完整表征：
精确定位电路中的损伤：
WavePulser 40iX 软件通过其深度工具箱提供互连和电路的轻松分析和建模：
WavePulser 40iX 高速互连分析仪是高速硬件设计人员和测试工程师理想的单一测量工具，具有矢量网络分析仪 (VNA) 和时域反射仪 (TDR) 所缺乏的所有特性和功能。 进行一次采集，然后在频域和时域中进行测量。
WavePulser 40iX 验证、调试和解决串行数据电缆、通道、连接器、过孔、背板、印刷电路板以及芯片和 SoC 封装中的互连问题。 它的设置和使用非常简单。它提供了与网络分析仪相同的结果，但价格只是其一小部分。
了解更多
查看网络研讨会
WavePulser 40iX 校准标准是内置的，因此校准始终是自动、简单和快速的。 与需要购买额外的外部校准标准并需要手动连接进行校准的矢量网络分析仪相比。 基于 TDR/TDT 的方法也独立于设置，从而降低了校准频率。
WavePulser 40iX 提供时域反射计 (TDR) 阶跃响应和时间门控和/或仿真物理层响应，无需对直流和低频进行外推 - 是高速串行数据互连分析的理想选择。
WavePulser 40iX 高速互连分析仪通过一次采集测量单端和混合模式 S 参数。 无需重新获取新数据即可更改设置并重新计算结果。
一次采集显示所有测量结果：所有端口的混合模式回波和插入损耗； 差模和共模测量； 直流频率响应。 表格图形用户界面使阅读结果简单明了。
一个简单的设置只需要输入频率和端口数量进行单端采集。 选择针对准确性或速度或介于两者之间的优化的测试时间。 可以在软件中重新配置端口，而无需重新连接到 DUT。 重新排序 Touchstone 文件中的 S 参数。
内部电子校准允许更快地开始测量并更有信心地进行测量。 被动性、互易性和因果关系执行等功能确保了更高的 S 参数测量精度。
WavePulser 40iX 高速互连分析仪以 < 1 mm 的空间分辨率测量阻抗曲线。
WavePulser 40iX 支持差模阻抗曲线和混合模式测量，并可同时显示多种模式。 还可以查看阶跃响应、脉冲响应和反射系数等。
使用阻抗曲线来检测和定位高速串行数据互连中的常见问题：连接器松紧不当；损坏的电缆；不正确的电缆弯曲半径；传输线上的缺陷通孔; 其他传输线路异常。
阻抗曲线检测和定位测量设置中的损伤，而不仅仅是在 DUT 上，帮助您提高工作效率。 了解何时需要重复校准，何时不需要。
WavePulser 40iX 高速互连分析仪可以与 SI Studio™ 捆绑购买（WavePulser-40iX-BUNDLE)，一个专为了解高速串行数据互连特性而定制的深度分析工具箱。
消除电缆和连接器对结果的影响。通过端口扩展或阻抗剥离算法设置门控，并保存包含或不包含门控区域的S参数。使用建模或测量的S参数对串行数据通道进行去嵌入处理。
导入或模拟波形，并使用S参数对损耗进行建模。通过直观的串行数据眼图快速查看损耗的影响。查看去嵌入和均衡对眼图的影响。支持PLL、预加重、去加重、CTLE、FFE和DFE。
测量总 (Tj)、随机 (Rj) 和确定性 (Dj) 抖动。 将确定性抖动分解为组成部分。 在频谱、直方图、抖动轨迹、眼图和其他图中查看抖动。