主要功能
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支持DDR2/3/4/5 和 LPDDR2/3/4/4倍/5/5倍
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测试速度高达 8533 MT/s
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支持设计的合规阶段的早期开启
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集成到 MAUI 中并由 QualiPHY 用于故障分析
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多场景查看 – 分析和比较最多 4 个查看区域的不同设置。
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包括 DDR JEDEC 定义的测量和抖动分析
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包括 DDR JEDEC 定义的眼图和模板测试
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仅限行业的命令总线解码和触发高达 DDR5
DDR 触发和解码
命令总线是主机和 DDR DRAM 通信的核心部分。 执行早期验证测试不仅意味着电气验证，还意味着协议。 示波器可以根据 JEDEC 标准中指定的命令真值表中的 20 多个协议命令进行解码和触发。 然后使用解码的命令总线通过高精度的 R/W 分离功能来加速眼图和测量分析阶段。
多场景查看
通过 4 个独特的分析查看区域加速预合规测试和微调阶段。 这些查看区域各自可以代表自己的通道选择（特定于写入或读取）、进行 DDR 测量、眼图、模板测试等。 使工程师能够测试数据、选通脉冲或时钟测试点、分析串扰、比较新设计以及调试和根本原因设计问题。
JEDEC 定义的眼图、模板测试
专门针对 DDR 读或写数据包执行特定的眼图测试、高度和宽度开口测量。 然后使用 JEDEC 定义的掩码来测试数据或 CA 写入突发。
DDR 特定测量
每个查看区域都可以提供在双向采集中捕获的 DDR 特定读取或写入信号的统计结果。 根据 JEDEC 标准进行突发、Vref、VOH、VOL、建立和保持、时滞、转换速率、各种抖动和时序特定测量。