精密校准的真差分 TDR
专为精确度和速度而设计， T3SP15D 重新定义 PCB 和电缆信号完整性的测量方式。它配备经过校准的差分 TDR，可提供超快速、高分辨率的单端和差分特性阻抗曲线分析。轻巧紧凑，并可选配电池供电， T3SP15D 适用于任何环境：实验室、质量控制、生产或现场
主要功能
- 真差分和校准 TDR 实现最大阻抗测量精度
- 紧凑型电池供电设计 实现真正的便携性
- 30 ps 典型上升时间，S参数支持高达 15 GHz
- 50,000点内存 对于 DUT 高达 50米（XR型号）
- 自动欧姆损耗补偿 提高准确性
- 内置倾斜分析 （对间和对内）差分信号完整性
- XR系列：专为速度而设计，针对连续电缆生产进行了优化
真差分TDR
大多数现代高速设计都采用差分传输线实现。使用真差分TDR可以简化此类设计中的信号完整性测量设置。在某些情况下，如果您要测量非屏蔽双绞线电缆，接地连接可能难以连接或无法访问。大多数情况下，使用真差分TDR进行测量时无需接地，这让您可以灵活地使用无需接地的TDR探头。
快速 TDR 重复率
重复频率高达 10 MHz T3SP系列比基于采样示波器的传统TDR仪器速度快300多倍。为了达到最高的动态范围，TDR仪器需要采集数百个波形并进行平均。更快的采样率能够提供更快、更准确的测量结果。
T3S适用于电缆制造商的 P15-XR 型号
这个 T3SP15D-XR 的创建是为了提供一种比使用基于采样示波器平台的过时 TDR 更好的生产替代方案。添加了四个新的时基 T3SP15D-XR 实现了两个目标。首先，将测量范围扩展到最长 50 米的电缆；其次，实现了极快的采集速度，这是生产的关键要求。我们增加了 500 KHz 的重复频率，适用于更长的电缆；以及 20 ps 和 40 ps 的采样率，适用于超快的采集时间。
完全校准的阻抗图
所有TDR仪器中的参考阻抗都是相对的；它们是通过比较反射幅度和入射幅度得出的。使用完整的OSLT校准 T3SP系列在时域和频域阻抗测量方面提供最佳精度。使用四种校准标准（开路、短路、负载、直通）进行 T3SP15D 在时域中进行校准，而不是像TDR仪器那样使用简单的归一化方法，可以显著提高设置的误差校正效果。在时域中使用OSLT校准可以避免阻抗图的不规则性，例如TDR入射阶跃后出现的振铃。
完全校准的 S 参数
许多现代标准（例如以太网或 USB）都要求在频域内测量电缆和连接器的阻抗匹配。这些测量通常使用传统的 VNA 仪器进行。 T3SP系列提供完全校准的差分S参数测量，最高可达15 GHz（T3SP15D) 使用与 VNA 相同的 OSLT 校准标准。
信任，但要测试——你的电缆可能存在问题
即使是优质电缆也可能隐藏引入测量伪影的缺陷。 T3SP 系列可即时显示电缆质量，精确定位因损坏或缺陷导致的不合格部分。SP 系列拥有高达 50,000 点的采集能力，可提供长距离、高分辨率的 TDR 捕获，非常适合扩展的被测设备 (DUT)。灵活的重复频率范围从 10 MHz 到 1 MHz，支持长达 30 米的电缆长度，而 XR 型号则将此范围扩展至 50 米，重复频率最低可达 500 kHz。
ESD保护
高频测量设备对静电放电 (ESD) 极为敏感，可能导致测量设备永久性损坏。此外，许多实验室都要求采取特殊预防措施，以保护其电子设备免受 ESD 损坏。SP 系列通过提供更高级别的保护来降低这一风险。每个 SP 系列型号都配备了基于高性能同轴射频开关的 ESD 保护模块。其工作原理是，当设备不用于测量时，通过将设备的射频信号检测器与输入连接器隔离来保护射频输入电路。
S 参数测量
现代电子设计和未来串行数据标准中使用的高比特率已延伸至微波领域。例如，高速通用串行总线 (USB3.1) 支持通过双绞线电缆实现高达 10 GB/s 的传输速率。由于信道色散，通过连接器和电缆进行的高比特率传输会导致相当大的失真。为了将失真控制在可控范围内，许多标准规定了电缆和连接器的阻抗、回波损耗和插入损耗。这些测量值用 S 参数表示。 T3SP 系列提供完全校准的差分 S 参数测量，最高可达 15 GHz（T3SP15D)。这使您可以灵活地以多种格式（CSV、Matlab 和 Touchstone）存储输出文件，这些文件可以轻松地在 SI-Studio、Matlab 或其他模拟程序等工具中使用。
PCB 上的阻抗走线
随着高速数字系统时钟频率的不断提高，受控阻抗印刷电路板 (PCB) 的需求也日益增长。此外，电缆和连接器必须满足高频设计规范和受控阻抗规范。
T3SP系列可帮助您非常精确、便捷地测量PCB、电缆和连接器的波阻抗。与市面上其他系统相比，
T3SP 系列专为测量 PCB 上的特定走线和板载测试而设计，TDR 探头可确保对合格测试和调试组装 PCB 进行精确测量。
资源中心
在本次免费网络研讨会中，我们将向您展示正确思考传输线上信号的方法以及如何解释 TDR 结果。
在本次网络研讨会中，您将了解如何根据互连的特性阻抗和时间延迟以及阻抗不连续的位置来解释 TDR 测量的瞬时阻抗曲线。
在本次网络研讨会中，Eric Bogatin 博士将探讨如何理解差分阻抗和共模阻抗。基于差分对的特性，我们将尝试使用双端口 TDR 作为差分 TDR，以便表征互连的基本差分阻抗特性。
在本次网络研讨会中，Eric Bogatin 博士探讨了非屏蔽双绞线 (UTP) 电缆如何没有相邻的返回平面却能实现出色的差分互连。
在本次网络研讨会中，Eric Bogatin 博士将向您展示如何分析非均匀传输线的互连线。表征不连续性意味着什么？他将向您介绍一种激动人心且充满乐趣的“互连线黑客攻击”技术，任何人都可以使用我们提供的免费开源仿真工具来操作。
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型号 |
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T3SP15D-B-捆绑 差分 TDR、35 ps、15 GHz、ESD、Sxy、OSLT 3.5MM 校准套件、铝制外壳、内置电池 |
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T3SP15D-Bundle 差分 TDR、35 ps、15 GHz、ESD、Sxy、OSLT 3.5MM 校准套件，铝制外壳 |
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T3SP15D-XR-捆绑包 差分 TDR，35 ps，50m 电缆，ESD，Sxy，OSLT 3.5MM 校准套件，铝制外壳 |
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T3SP15D-B-XR-捆绑包 差分 TDR、35 ps、50m 电缆、ESD、Sxy、OSLT 3.5MM 校准套件、铝制外壳、内置电池 |
选项配件
| 模型 | 描述 | |
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| T3SP-SEP |
单端 TDR 探头（高精度，1.0/1.27/1.65/2.0/2.5 毫米可变间距） |
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| T3SP-SEPROBE-F |
单端 TDR 探头（工业，2.54mm 固定间距） |
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| T3SP-DPROBE |
差分 TDR 探头（高精度，18 GHz，0.5 - 5.0mm 可变间距） |
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| T3SP-D探针-F |
差分 TDR 探头（5 GHz，2.5 或 5mm 固定间距） |
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| T3SP-CASE |
存储和旅行箱（用于 TDR 和配件的铝制手提箱） |
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| T3SP-BOARD |
演示和验证板 |
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