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CBL-DE-EMBED

从测量中消除电缆效应

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电缆去嵌入

电缆去嵌入是所有 SDA Zi 示波器的标准功能,包含在 Eye Doctor II. 电缆去嵌入使用户能够通过输入通常由电缆制造商提供的衰减表或衰减常数来快速轻松地消除电缆的影响。

添加/移除预加重或去加重

串行数据通道对串行数据信号的高频内容有重大影响。 因此,发射机设计人员有时会使用加重来预先补偿这些影响。 Eye Doctor II 可以从发送器输出端测量的信号中去除去加重或预加重。 这在尝试测量此类信号的抖动以消除由去加重引入的 DDj 时非常有用。 此外, Eye Doctor II 可以添加去加重或预加重以确定补偿特定串行数据通道所需的量。

电缆/夹具/串行数据通道去嵌入

在许多典型的高频测量情况下,工程师希望尽可能直接连接到他们的信号并避免使用探头。 然而,即使是高质量的测试夹具、通道和电缆也会对信号质量产生负面影响,这种影响会随着信号频率的升高而增加。 虽然这些影响在较低频率下可以忽略,但当比特率增加到 5 Gb/s 以上时,它们应该始终被考虑在内。 如果可以使用矢量网络分析仪 (VNA) 或时域反射计/时域传输 (TDR/TDT) 根据 S 参数对测试夹具、通道或电缆进行电气量化,则可以消除它们的电气影响从测量结果来看。 结果是一个未被测试设置改变的测量,并且能够使用额外的内置示波器工具(例如参数、数学函数、抖动轨迹、直方图、眼图等

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